测试表征系列之SEM
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是，①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样制备简单。它是当今十分有用的科学研究仪器。本期针对SEM测试表征过程中可能遇到的问题，首先概括介绍了SEM的基本原理及应用，最后整理出了SEM原理﹑操作﹑课件﹑书籍等资料大全，希望能为读者提供一些有价值的信息。SEM资料大全如下
SEM原理及操作：
1.扫描电镜的培训教程
2.扫描电镜的结构、原理及其操作使用
3.场发射扫描电子显微镜结构及工作原理介绍
4.环境扫描电镜下的神奇世界.flv
5.若干TEM，SEM,XRD,XPS操作手册.rar
6.SEM的flash原理演示－JEOL.exe
7.扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜(AFM).pdf
SEM制样：
分享一本SEM和X显微样品制作手册：HandbookofSamplePreparationforSEMandX-ray
剑桥大学的PatrickEchlin编写的，也是springer出的，内容很细致，而且很多内容有图片辅助说明，很好的一本书。
SEM粒径分析软件
粒径分析软件nanomeasurer
SEM课件：
扫描电镜.ppt
电镜课件.rar
扫描电子显微镜.pdf
扫描电子显微镜SEM课件资源
扫描电子显微镜（SEM）
SEM书籍：
1.扫描探针显微镜：在科学及技术中的应用（英文版）
附件：Physical_methods_for_materials_characterisation.pdf
2.电子探针分析和扫描电子显微镜在地质学中的应用（英文版）
附件:扫描电子显微镜分析技术.pdf